光通訊器件測試溫度變化實驗箱

簡要描述：光通訊器件測試溫度變化實驗箱：該系列試驗箱的設(shè)計融入了人體工程學(xué)概念，箱體的前端和側(cè)面非常平滑。試驗箱的觀察窗是*可視的，且不凝露

瀏覽次數(shù)：2024

所屬分類：非線性快速溫度變化試驗箱

產(chǎn)品時間：2025-11-01

詳情介紹

應(yīng)用:TE系列試驗箱的溫度變化率很快，可以幫助您在出廠前發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的設(shè)計缺陷。氣候試驗:TE系列溫度試驗箱加上濕度模塊，即可成為溫度/濕度試驗箱。產(chǎn)品篩選:通過溫度和濕度循環(huán)可使您在發(fā)現(xiàn)之前檢測出產(chǎn)品存在的潛在缺陷，提高產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。

光通訊器件測試溫度變化實驗箱

設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 10586 -2006 濕熱試驗箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）
GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則
GJB 150.3A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗
GJB 150.4A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第4部分：低溫試驗
GJB 150.9A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第9部分：濕熱試驗

光通訊器件測試溫度變化實驗箱

型號		SMB-150PF	SMB-225PF	SMB-408PF	SMB-600PF	SMB-1000PF
工作室尺寸D×W×H		500500600	500×600×750	600800850	800×1000×800	1000×1000×1000
性能指標(biāo)	溫度范圍	A:0℃～150℃ B:-20℃～150℃ C:-40℃～130℃ D:-60℃～150℃ ED:-70℃～150℃
	濕度范圍	30～98％RH
	波動/均勻度	±0.5℃/±2℃
	濕度偏差	＋2、-3％RH
	升溫時間	每分鐘升降溫平均5℃～20℃(可調(diào))
	降溫時間	每分鐘升降溫平均5℃～20℃(可調(diào))
控制系統(tǒng)	控制器	進口可編程觸摸式液晶中文對話式顯示.微電腦集成控制器
	精度范圍	設(shè)定精度：溫度0.1℃、濕度1％RH，指示精度：溫度0.1℃、濕度1％RH
	傳感器	鉑金電阻 PT100Ω/MV
	加熱系統(tǒng)	全獨立系統(tǒng)，鎳鉻合金電加熱式加熱器
	加濕系統(tǒng)	外置隔離式，全不銹鋼淺表面蒸發(fā)式加濕器
	除濕系統(tǒng)	采用蒸發(fā)器盤管露點溫度層流接觸除濕方式
	供水系統(tǒng)	加濕供水采用自動控制.且可回收余水.節(jié)水降耗
	制冷系統(tǒng)	風(fēng)冷單級壓縮制冷方式/原裝法國“泰康”/風(fēng)冷復(fù)迭壓縮制冷方式
	循環(huán)系統(tǒng)	耐溫低噪音空調(diào)型電機.多葉式離心風(fēng)輪
使用材料	外箱材質(zhì)	優(yōu)質(zhì)碳素鋼板.磷化靜電噴塑處理/SUS304不銹鋼霧面線條發(fā)紋處理
	內(nèi)箱材質(zhì)	SUS304不銹鋼板
	保溫材質(zhì)	聚氨酯硬質(zhì)發(fā)泡/超細(xì)玻璃纖維綿
	門框隔熱	雙層耐高低溫老化硅橡膠門密封條
標(biāo)準(zhǔn)配置		多層加熱除霜附照明玻璃視窗1套、試品架2個、測試引線孔（25、50mm）1個
安全保護		漏電、短路、超溫、缺水、電機過熱、壓縮機超壓、過載、過電流保護/控制器停電記憶
電源電壓		AC380V±10％ 50±0.5Hz 三相五線制
使用環(huán)境溫度		5℃～＋30℃ ≤85％RH

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